به گزارش گروه علم و فناوری ایسکانیوز، انتقال فازها نقش مهمی در مواد دارند. با این حال در مواد دو بعدی که معروفترین آن گرافن است مطالعه فاز بسیار دشوار است. محققان دانشگاه صنعتی دلفت و والنسیا روش جدیدی را تهیه کرده اند که به حل این مشکل کمک می کند. آنها لایه های فوق نازک از مواد دو بُعدی را روی یک حفره به حالت تعلیق درآوردند و فرکانس رزونانس غشاهای حاصل را با استفاده از لیزر ردیابی کردند. نتایج کار آنها در « Nature Communications» منتشر شده است.

کشف خواص الکتریکی و مکانیکی استثنایی گرافن ( اولین ماده دو بعدی) و لایه هایی با ضخامت های یک اتم واحد توجه دانشمندان را به خود جلب می کند.

با کشف های اخیر در مورد انواع منحصر به فرد فازهای مغناطیسی و الکترونیکی در این لایه ها، از جمله ابررسانا، بار امواج چگالی، فازهای ضد فرومغناطیسی و عملکردها و پدیده های جدیدی پدید آمده است.

انتقال فازها نقش مهمی در مواد دارند: به عنوان مثال آب در دمای اتاق مایع است و در زیر صفر درجه سانتیگراد یخ می زند و ماده ای با خصوصیات کاملاً متفاوت را تشکیل می دهد.

در نمونه های بزرگ، چندین روش برای اندازه گیری این انتقال فاز وجود دارد، به عنوان مثال با اندازه گیری گرمای ویژه که میتواند تغییرات ناگهانی را در انتقال فاز نشان دهد. با این حال، تنها چند روش برای مطالعه این انتقال در نمونه های نازک اتمی با جرم کمتر از پیکوگرم موجود است.

محققان دانشگاه صنعتی دلفت اکنون نشان داده اند که با بررسی حرکت رزونانس غشای ساخته شده از این مواد 2 بعدی می توان این مراحل را مورد مطالعه قرار داد.

این غشاها می توانند با تعلیق یک بلور فوق نازک روی حفره ای در یک بستر تشکیل شوند.

Makars Šiškins توضیح داد که آن ها فرکانس رزونانس مکانیکی این غشاها را با استفاده از لیزر قرمز ردیابی و آنها را توسط یک لیزر آبی به فرکانس MHz تبدیل می کنند.

هنگامی که محققان غشاهای FePS3 ، NiPS3 و MnPS3 را خنک کردند، تغییر ناگهانی در فرکانس رزونانس آنها مشاهده کردند. همبستگی بین تغییر فرکانس رزونانس و مرتب سازی مغناطیسی در دمای انتقال فاز نتیجه ای از گسترش ناگهانی است که با افزایش اختلال مغناطیسی(مشابه انتقال فاز از مایع به گاز) اتفاق می افتد. این انبساط باعث می شود تنش مکانیکی در غشاء کاهش یابد که در نتیجه باعث کاهش فرکانس رزونانس می شود.

انتهای پیام/